原硅片PL模組



簡介

原硅片PL檢測模組可將原硅片中肉眼不可以見的缺陷檢測出,同時兼容多晶、單晶、類單晶硅片。

可針對于單晶、多晶、類單晶硅片的位錯、絨絲、晶界等缺陷檢出。

此模組為標準模組,可集成于硅片分選機、制絨上料機,達到控制產品質量、節約制造成本的目的。

  

                        硅片及對應PL圖像


產品特性

檢測出硅片中各種肉眼不可見缺陷

自動預測硅片的效率參考值

自動統計各缺陷與良品數量及比例,

產能大于6000/小時

無接觸式檢測,不對硅片二次損傷

提前篩選出問題片,節約制造成本


技術指標

可檢測缺陷:

 絨絲、晶界、黑斑、污染、雜質、隱裂等

模塊產能:

    >6000P/H

相機類型:

 高清紅外線掃工業相機

適用電池片規格:

 156至210mm(±0.5mm) , 160~200μm

                           

缺陷圖像 

  


   


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